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  六相微機(jī)繼電保護(hù)測試儀頻率及高低周試驗(yàn)"測試模塊主要是用來測試低周減載和高周切機(jī)等保護(hù)的各項(xiàng)功能。根據(jù)其功能，將這個(gè)模塊分成了六個(gè)測試單元。
? 測試項(xiàng)目全面，包含了幾乎所有的頻率及高低周保護(hù)
? 頻率可以下滑進(jìn)行低周減載測試，

1. 也可以上滑進(jìn)行高周試驗(yàn)

第一節(jié) 界面說明
? 測試項(xiàng)目
有“動作頻率"、“動作時(shí)間"、“df/dt閉鎖"、“dv/dt閉鎖"、“低電壓閉鎖"以及“低電流閉鎖"等六個(gè)測試項(xiàng)目。根據(jù)需要，可以選擇其中的一個(gè)或者多個(gè)進(jìn)行試驗(yàn)。選擇多個(gè)測試項(xiàng)目時(shí)，在一個(gè)測試項(xiàng)目測試完畢后，會彈出相應(yīng)對話框提示是否進(jìn)行下一個(gè)測試項(xiàng)目。
測試對象名稱中包含“低周保護(hù)"、“頻率繼電器"、“差頻繼電器"、“低頻繼電器"以及“高頻繼電器"五種繼電器。默認(rèn)情況下選擇“低周保護(hù)"。其下拉菜單如圖所示：

在變量的每個(gè)變化過程中，裝置先以額定頻率50Hz輸出，維持至“頻率變化前延時(shí)"結(jié)束，然后再開始變化。該項(xiàng)在有些保護(hù)測試是非常有用，可以用來等待保護(hù)頻率閉鎖后解除閉鎖。
? 測試間斷時(shí)間
每一次試驗(yàn)結(jié)束后裝置將停止輸出至“測試間斷時(shí)間"結(jié)束，再進(jìn)入下一次試驗(yàn)。
? 整定值
各測試功能頁中均有整定值輸入框，這些整定值大多在試驗(yàn)期間并不起作用，只是在試驗(yàn)后起到參考對比作用。根據(jù)需要自行設(shè)定“允許誤差"。試驗(yàn)測得的“測試值"與“整定值"進(jìn)行比較后，得出一個(gè)相對誤差，從而反映保護(hù)的性能。
? 動作頻率
? 動作頻率測試范圍
動作頻率測試范圍的測試始值和終值均應(yīng)設(shè)置在動作頻率附近。測試始值應(yīng)大于保護(hù)整定動作值，測試終值小于整定動作值，
動作頻率的測試方法：測試時(shí)頻率分兩階段變化：開始以50Hz輸出，經(jīng)過變化前延時(shí)后，先按所設(shè)定的df/dt均勻下滑（或上滑）至測試始值頻率，然后按設(shè)定的步長以一定時(shí)間間隔逐格降

低（或上升）頻率，在該過程中如保護(hù)動作，則測出動作值。如未動作，當(dāng)變化至測試終值，即認(rèn)為保護(hù)不會動作而結(jié)束該項(xiàng)目測試。

這里逐格變頻的時(shí)間間隔是根據(jù)整定的動作時(shí)間自動確定的，該時(shí)間間隔比整定動作時(shí)間長0.2S。故整定動作時(shí)間應(yīng)設(shè)置正確，以保證在變化時(shí)間間隔內(nèi)保護(hù)有足夠時(shí)間可以動作。

做低周減載試驗(yàn)一般測試范圍小于50Hz，做高周切機(jī)試驗(yàn)一般測試范圍大于50Hz。

例如：已知低周動作值為48.5Hz，可以設(shè)定測試范圍為48.7—48Hz，步長為0.05Hz。測試始值和終值不能設(shè)置得太?。ㄒ话銘?yīng)不低于45Hz），否則保護(hù)將閉鎖。

動作時(shí)間

動作時(shí)間測試的方法：頻率從始值（一般為50Hz）下滑至終值并等待動作。該終值應(yīng)略小于動作頻率值以確保裝置動作，但測試動作時(shí)間的計(jì)時(shí)器是從所設(shè)定的“開始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率"處開始計(jì)時(shí)，故該值若有偏差將影響時(shí)間測量精度。試驗(yàn)過程見右圖。

? 開始計(jì)時(shí)的頻率點(diǎn)

測動作時(shí)間時(shí)，應(yīng)特別注意正確設(shè)置“開始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率"。一般設(shè)置為裝置整定的動作頻率，或測試出的準(zhǔn)確動作頻率值。

? df/dt閉鎖

? df/dt測試范圍
測試“df/dt閉鎖值"時(shí)，在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)至保護(hù)動作，則測出此時(shí)的df/dt閉鎖的邊界值。
因?yàn)楸Ｗo(hù)在大于整定的df/dt值下滑時(shí)閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測試保護(hù)從不動作到動作，測出保護(hù)的df/dt閉鎖值。
? 頻率變化范圍
每輪試驗(yàn)頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因?yàn)橐话阊b置都有一個(gè)固有的“閉鎖頻率"，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。
做該試驗(yàn)時(shí)頻率變化前延時(shí)一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時(shí)間解除閉鎖狀態(tài)。
? dv/dt閉鎖
這個(gè)測試頁與上文中的“df/dt閉鎖"很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。下面只對它們的不同點(diǎn)做介紹。
? dv/dt測試范圍
測試“dv/dt閉鎖值"時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。
因?yàn)檠b置在大于整定的dV/dt閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。
? 電壓變化范圍
為了模擬電壓下降的過程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值"大于“變化終值"。同時(shí)，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值"應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。1．滿足現(xiàn)場所有試驗(yàn)要求。本儀器具有標(biāo)準(zhǔn)的六相電壓，六相電流輸出，電壓125V/相，電流30A/相。六相并聯(lián)可達(dá)180A。既可對傳統(tǒng)的各種繼電器及保護(hù)裝置進(jìn)行試驗(yàn)，也可對現(xiàn)代各種微機(jī)保護(hù)進(jìn)行各種試驗(yàn)，特別是對變壓器差功保護(hù)和備自投裝置，試驗(yàn)更加方便。

2．各種技術(shù)指標(biāo)*達(dá)到電力部頒發(fā)的DL/T624-1997《繼電保護(hù)微機(jī)型試驗(yàn)裝置技術(shù)條件》的標(biāo)準(zhǔn)。

3．經(jīng)典的Windows XP操作界面，人機(jī)界面友好，操作簡便快捷；高性能的嵌入式工業(yè)控制計(jì)算機(jī)和8.4寸分辨率為800×600的TFT真彩顯示屏，可以提供豐富直觀的信息，包括設(shè)備當(dāng)前的工作狀態(tài)及各種幫助信息等。

4．本機(jī)Windows XP系統(tǒng)自帶恢復(fù)功能，避免因非法關(guān)機(jī)或誤操作等引起的系統(tǒng)崩潰。

5．配備有超薄型工業(yè)鍵盤和光電鼠標(biāo)，可以象操作普通PC機(jī)一樣通過鍵盤或鼠標(biāo)完成各種操作。

6．主控板采用DSP+FPGA結(jié)構(gòu)，16位DAC輸出，對基波可產(chǎn)生每周2000點(diǎn)的高密度正弦波，大大改善了波形的質(zhì)量，提高了測試儀的精度。

7．功放采用高保真線性功放，既保證了小電流的精度，又保證了大電流的穩(wěn)定。

8．采用USB接口直接和PC機(jī)通訊，無須任何轉(zhuǎn)接線，方便使用。

9．可連接筆記本電腦（選配）運(yùn)行。筆記本電腦與工控機(jī)使用同一套軟件，無須重新學(xué)習(xí)操作方法。

10.具備GPS同步試驗(yàn)功能。裝置可內(nèi)置GPS同步卡（選配）通過RS232口與PC機(jī)相連，實(shí)現(xiàn)兩臺測試儀異地進(jìn)行同步對調(diào)試驗(yàn)。

11.配有獨(dú)立專用直流輔助電壓源輸出，輸出電壓分別為110V（1A），220V（0.6A）。以提供給需要直流工作電源的繼電器或保護(hù)裝置使用。

12.六相微機(jī)繼電保護(hù)測試儀具有軟件自較準(zhǔn)功能，避免了要打開機(jī)箱通過調(diào)整電位器來校準(zhǔn)精度，從而大大提高了精度的穩(wěn)定性。

1．交流電流源

2．直流電流源

3．交流電壓源

4．直流電壓源

5．開關(guān)量端子

6．其他

?
? 測試時(shí)df/dt值
在此測試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時(shí)，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。
? 低電壓閉鎖
該頁與上文中的“df/dt閉鎖"和“dv/dt閉鎖"相似。下面僅介紹不同點(diǎn)。
? 電壓測試范圍
測試時(shí)電壓在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每輪測試時(shí)頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時(shí)裝置解除閉鎖正確動作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值
由于裝置在電壓小于閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，故一般變化始值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動作到動作，從而測出裝置的低電壓閉鎖值。
? 低電流閉鎖
該測試頁與“低電壓閉鎖"試驗(yàn)方法非常相似?，F(xiàn)場試驗(yàn)時(shí)，請參考“df/dt閉鎖"、“dv/dt閉鎖"和“低電壓閉鎖"中的使用說明。
第二節(jié) 試驗(yàn)指導(dǎo)
下面僅以“低周動作值測試"為例，詳細(xì)說明具體的試驗(yàn)方法
? 接線方法
測試儀三相電壓UA、UB、UC接保護(hù)三相電壓，測試儀UN接保護(hù)的UN；測試儀開入量A、B分別接保護(hù)的第一輪和第二輪甩負(fù)荷開出引線的一端，另一端短接后接測試儀開入量的公共端；最后接上裝置的工作電源（如果裝置需要直流工作電源，可以從測試儀后面板的獨(dú)立直流電源引接）。
? 選擇
打開“頻率及高低周保護(hù)"測試模塊，選擇“低周保護(hù)"測試對象的“動作頻率"測試項(xiàng)目；
? 設(shè)置
切換到“動作頻率"測試界面，設(shè)置試驗(yàn)數(shù)據(jù)，如右圖所示：
? 整定動作頻率
按照保護(hù)的定值單或保護(hù)實(shí)際整定的定值設(shè)置。該設(shè)置項(xiàng)在試驗(yàn)期間只起參考作用，不影響試驗(yàn)結(jié)果。
? 整定動作時(shí)間
保護(hù)的定值單上的整定動作時(shí)間。第二階段逐格變頻的時(shí)間間隔等于該值加0.2秒。該值如果設(shè)置太小，有可能會使保護(hù)在一個(gè)變頻時(shí)間間隔內(nèi)來不及動作，故該值應(yīng)正確設(shè)置。
? 動作頻率測試范圍

“初始頻率"必須高于保護(hù)整定動作頻率，并且“終止頻率"必須低于整定動作頻率，即將動作頻率夾在二者之間

? 頻率變化步長

“變化步長"依據(jù)對試驗(yàn)的精度要求而定，一般按默認(rèn)的0.05Hz設(shè)置即可。

? 測試時(shí)df/dt值

指頻率下降過程中第一階段的均勻變頻速率，df/dt值應(yīng)小于保護(hù)整定的閉鎖值。
? 開始試驗(yàn)按鈕
檢查試驗(yàn)參數(shù)均設(shè)置正確后，即可開始試驗(yàn)。試驗(yàn)期間，界面上的“當(dāng)前頻率Hz"欄可以觀察到當(dāng)前測試儀輸出的實(shí)時(shí)頻率。測試儀未輸出電壓時(shí)，保護(hù)上的“異常"燈會亮。當(dāng)測試儀輸出的頻率小于保護(hù)的“啟動值"時(shí)，保護(hù)上“啟動"燈亮，即啟動低周動作元件。
試驗(yàn)的過程如下：輸出50Hz電壓電流，經(jīng)過變化前延時(shí)——頻率以df/dt速率均勻下滑至“測試初值"——按“變化步長"以“整定動作時(shí)間＋0.2秒"的時(shí)間間隔逐格下降頻率并記錄是否保護(hù)動作。